Sök böcker
Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!
Sökning efter: Daniel J. C. Herr 1 träff
| Titel | Författare | År | Språk | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Metrology, inspection and process control for microlithography XVI P. 1 - 4-7 March 2002, Santa Clara, USA | Daniel J. C. Herr | Cop. 2002 | Engelska |
1
Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.