Sök böcker

Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!

Sökning efter: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Corporate Author 3 träffar

Titel Författare År Språk
1 ICMTS 1998 : proceedings of the 1998 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 23-26, 1998, Kanazawa, Japan IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Corporate Author uuuu-uuuu Okänt
2 ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 22-25, 2004, Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Corporate Author uuuu-uuuu Okänt
3 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS : conference proceedings : March 19-22, Takeda Hall, The University of Tokyo, Japan IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Corporate Author uuuu-uuuu Okänt

1

Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.