Sök böcker
Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!
Sökning efter: Neal Sullivan 3 träffar
| Titel | Författare | År | Språk | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XIV | Neal Sullivan | 2000 | Okänt |
| 2 | Metrology, Inspection, And Process Control For Microlithography Xv | Neal Sullivan | 2001 | Okänt |
| 3 | Metrology, inspection and process control for microlithography XIV - 28 February-2 March 2000, Santa Clara, California | Cop. 2000 | Engelska |
1
Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.