Sök böcker

Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!

Sökning efter: Sudarshan Bahukudumbi 2 träffar

Titel Författare År Språk
1 Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits (Artech House integrated microsystems series) Sudarshan Bahukudumbi 2010 Okänt
2 Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty Sudarshan. author. Bahukudumbi uuuu-uuuu Okänt

1

Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.