Sök böcker

Här kan du söka dig fram till bra böcker. Klicka sen på en bok för att läsa mer om den!

Sökning efter: Tex.) (2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Austin 1 träff

Titel Författare År Språk
1 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : 19-22 March 2018, Austin, TX, USA / IEEE Electron Devices Society Tex.) (2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Austin uuuu-uuuu Okänt

1

Sökningen görs direkt i Kungl. bibliotekets söktjänst libris. Libris katalog innehåller närmare 7 miljoner titlar från ca 170 bibliotek i Sverige och biblioteken samarbetar om att hålla katalogen uppdaterad. Utan libris skulle inte en tjänst som Boktraven vara möjlig.